Anuncia científico vietnamita nueva herramienta para detectar fallos de semiconductores

Un grupo de estudiosos, liderado por el doctor vietnamita Nguyen Trong Hieu, de la Universidad Nacional de Australia (ANU, por sus siglas en inglés), anunció el descubrimiento de una herramienta para la detección temprana de los fallos técnicos en teléfonos móviles y pilas solares en el proceso de producción.

Nguyen Trong Hieu anuncia nueva herramienta para detectar fallos de semiconductores. (Fotografía: Australian National University)
Nguyen Trong Hieu anuncia nueva herramienta para detectar fallos de semiconductores. (Fotografía: Australian National University)

Según Trong Hieu, autor principal del proyecto, ese mecanismo funciona basado en la toma de fotos con alta resolución de los materiales semiconductores a solo segundos, a través de las cuales se pueden notar los defectos potenciales.

De acuerdo con el especialista, esa tecnología es decenas de miles de veces más rápida que las existentes.

Reveló, además, que su grupo se empeña hoy en considerar la comercialización de esa herramienta.

Nacido en 1988, Trong Hieu comenzó a inicios de 2013 en Australia sus estudios referentes a los materiales semiconductores para pilas solares, gracias a una beca completa de la ANU. Trong Hieu recibió su licencia de maestría en 2016.

En 2017, el experto empezó a trabajar en el Laboratorio Nacional de Energía Limpia de Estados Unidos, y en 2018 regresó a la ANU para realizar estudios y compartir clases en las tecnologías de energía solar.

Fuente: VNA